Hướng dẫn sử dụng

Sequential Screening in Semiconductor Manufacturing I: Exploiting Lot-to-Lot Variability

Loại tài liệu: Tài liệu số - Book

Thông tin trách nhiệm: Ou, Jihong; Wein, Lawrence M.

Nhà Xuất Bản: Forgotten Books

Năm Xuất Bản: 2018

Chia sẻ

Tải ứng dụng tại các liên kết sau để xem đầy đủ tài liệu.

Tóm tắt

This book is a rigorous exploration into the practical application of queueing theory to semiconductor manufacturing. It focuses primarily on wafer fabrication, describing the problems faced in the facility and the mathematical tools that can be used to optimize production. The book acknowledges that previous yield models have not accounted for yield variability and spatial dependence, and develops new models to incorporate these factors into screening strategies. The author uses lot and wafer-level data collected from multiple semiconductor fabrication facilities to verify that screening can indeed lead to increased revenue. Operations researchers, industrial engineers, and researchers in the semiconductor manufacturing industry should appreciate the theoretical advancements and practical insights presented here.

Ngôn ngữ:en
Thông tin trách nhiệm:Ou, Jihong; Wein, Lawrence M.
Thông tin nhan đề:Sequential Screening in Semiconductor Manufacturing I: Exploiting Lot-to-Lot Variability
Nhà Xuất Bản:Forgotten Books
Loại hình:Book
Bản quyền:Copyright©2018FB@td
Mô tả vật lý:41 p.
Năm Xuất Bản:2018

(Sử dụng ứng dụng VNU- LIC quét QRCode này để mượn tài liệu)

(Lưu ý: Sử dụng ứng dụng Bookworm để xem đầy đủ tài liệu. Bạn đọc có thể tải Bookworm từ App Store hoặc Google play với từ khóa "VNU LIC”)

  • Chủ đề
TÀI NGUYÊN KHÁC